ООО "Карл Цейсс"

Адрес: Украина, 04050, г. Киев, ул. Герцена, 10
Телефон: +38 (044) 581-29-00
Факс: +38 (044) 581-29-02
E-mail: info@zeiss.ua
http: //www.zeiss.ru
http: //www.zeiss.de

РУКОВОДЯЩИЙ СОСТАВ

Генеральный директор - Игельник Максим Семенович
Руководитель отдела Материаловедения, к.т.н. - Верцанова Елена Викторовна, E-mail: vertsanova@zeiss.ua

КРАТКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА

Компания "Карл Цейсс" является эксклюзивным представителем немецкого концерна Carl Zeiss - мирового лидера в производстве приборов точной механики и оптики - и предлагает широкий спектр микроскопов Carl Zeiss для исследования материалов и изделий в материаловедческих и материалографических лабораториях, в производстве и промышленном контроле качества продукции:

Световые микроскопы (прямые и инвертированные, поляризационные, стереоскопические, лазерные сканирующие).
Системы документации и анализа изображений.
Электронные микроскопы.
Комплексные системы для неразрушающего контроля.

Микроскопы Carl Zeiss - идеальная комбинация эксплуатационных характеристик, которые ожидают специалисты: усовершенствованная оптика - высокий контраст и точность изображения; инновационные технологии; легкое использование; возможность документирования, обработки и анализа изображения; эффективность и экономичность.

Для комплексного оборудования металлографических лабораторий мы предлагаем широкий спектр оборудования, расходных материалов и принадлежностей для материалографической пробоподготовки: отрезные станки, запрессовочное оборудование, шлифовально-полировальные станки, микротвердомеры.

На базе компании "Карл Цейсс" создан сервисный центр по обслуживанию оборудования и обучению дилеров и пользователей. Мы гарантируем сервисное обслуживание, а также методическую и техническую поддержку пользователей.

ПРОДУКЦИЯ

Микроскопы для материаловедения: Stemi® DV4, Stemi® DR, Stemi® 2000, Stemi® SV6, Stemi® SV11, Axioplan 2 imaging, Axiotech vario, Axiovert 40 MAT, Axiovert 200 MAT, LSM 5 PASCAL, Семейство AxioCam.
Стереоскопические микроскопы: Stemi DV4; Stemi 2000; Stemi 2000-C; Stemi 2000-CS; Stemi SV6; Stemi SV11; Stemi SV11Apo.
Поляризационные микроскопы: Axioskop 40; Axioskop 40 Pol; Axioskop 40 A Pol; Axioplan 2 imaging Pol.
Лазерные сканирующие микроскопы

СТАТЬИ
(опубликованные в ИТБ "Литьё Украины")

Верцанова Е.В. "Компания "Карл Цейс" - 100 лет на отечественном рынке" ИТБ "Литьё Украины" №10 (38), 2003 г.
Верцанова Е.В. "Проблемы комплектации материаловедческих лабораторий в соответствии с международными стандартами" ИТБ "Литьё Украины" №11 (39), 2003 г.
Верцанова Е.В. "Современные тенденции развития оптико-механических приборов в НК " ИТБ "Литьё Украины" №2(42), 2004 г.
Верцанова Е.В. "Современное оборудование для пробоподготовки при анализе микро- и макроструктуры металлов и сплавов" ИТБ "Литьё Украины" №5 (45), 2004 г.
Верцанова Е.В. "Компании "Карл Цейсc" - 160 лет" ИТБ "Литьё Украины" №9 (73), 2006 г.
Верцанова Е.В., Егорова О.В. "Новые инвертированные исследовательские и универсальные металлографические микроскопы фирмы Carl Zeiss" ИТБ "Литьё Украины" №2 (78), 2007 г.
Сорокина Л.И. "Стандартизация автоматизированных методик контроля микроструктуры" ИТБ "Литьё Украины" №3 (79), 2007 г.
Яценко Р.В., Яценко М.Ю., Верцанова Е.В., Сорокина Л.И. "Перспективы разработки и поэтпного внедрения методов автоматического металлографического контроля спецсталей, гармонизированных с зарубежными стандартами" ИТБ "Литьё Украины" №7 (83), 2007 г.
Власов О.В., Пирожников С.Е. "Обзор новинок промышленной измерительной техники Carl Zeiss" ИТБ "Литьё Украины" №9 (85), 2007 г.
Верцанова Е.В. "Средства автоматического металлографического контроля" ИТБ "Литьё Украины" №11 (87), 2007 г.
Верцанова Е.В. "Анализ размеров зёрен с помощью программы AxioVision Grains производства "Карл Цейсс" ИТБ "Литьё Украины" №1 (89), 2008 г.
Верцанова Е.В. "Многофазный анализ с помощью анализатора изображения AxioVision Multiphase производства "Карл Цейсс" ИТБ "Литьё Украины" №2 (90), 2008 г.
Верцанова Е.В. "Многофазный анализ с помощью анализатора изображения AxioVision Graphite производства "Карл Цейсс" ИТБ "Литьё Украины" №3 (91), 2008 г.
Верцанова Е.В. "Системы анализа анализа картин дифракции отраженных электронов Oxford Instruments на базе электронных микроскопов Carl Zeiss для текстурного и фазового анализа металлов и сплавов" ИТБ "Литьё Украины" №4 (92), 2008 г.